Профилометърът е прецизен инструмент, използван за високо прецизно измерване на микроскопичната топография на материалните повърхности (като височина на стъпалата, грапавост, плоскост и warp). Той се използва широко в производството на полупроводници, научните изследвания на материалите, обработката на mems (микроелектромеханични системи) и тестването на оптични компоненти. Основната му функция е да получи количествени данни за промените на височината на повърхността чрез минутен контакт между сондата и повърхността на пробата, предоставяйки ключови данни за анализ на производителността на материала и оптимизиране на процесите.
