Transmission Electron Microskopy (TEM) je moćna tehnika koja se koristi za posmatraju dobru strukturu materijala u skali nanometara. Jedan od ključnih komponenta koji značajno uticaje na izvedbi TEM-a je držik TEM. Razumijevanje različite vrste i funkcije država TEM može biti ključni za profesionalci koji oslanju na preciznom sliku i analizu u njihovom poslu. Držak TEM,