Profilometr je preciznost instrument koji se koristi za mjerenje visoke presizcije mikroskopske topografije materijalnih površina (kao što je visina koraka) t, Otrovostvo, ravnost i skloni. To se široko koristi u proizvođenju poluconductora, istraživanje nauke materijale, MEMS (Microelectromechanical Systems), i testiranje optičke komponente. Njena je osnovna funkcija je da dobije kvantitativne podatake na promjene visine preko minutu kontakt između istraživa i površine uzoraka, pružajući ključni podaci za analizu materijalne izvedbe i optimizaciju procesa.
