Transmission Electron Microskopy (TEM) je moćna tehnika koja se koristi za posmatraju dobru strukturu materijala na skalu nanometara. Jedan od ključnih komponenta koje značajno uticaje na predstavu TEM-a je držik TEM. Razumijevanje razne vrste i funkcije država TEM može biti ključni za profesionalci koji se oslanju na preciznom sliku i analizu u njihovom poslu. TEM držik,