Profilometr je přesný přístroj, který se používá pro vysoce přesné měření mikroskopické topografie materiálových povrchů (např. výšky stupňů, drsnosti, plochosti a osy). Je široce používán ve výrobě polovodičů, výzkumu materiálových věd, zpracování mems (mikroelektromechanických systémů) a testování optických složek. Jeho hlavní funkcí je získat kvantitativní údaje o změnách výšky povrchu prostřednictvím minutového kontaktu mezi sondou a povrchem vzorku, což poskytuje klíčové údaje pro analýzu výkonnosti materiálu a optimalizaci procesu.
