Mae Microsgopi Electron Trosglwyddo (TEM) yn dechneg bwerus a ddefnyddir i arsylwi strwythur cain deunyddiau ar raddfa nanomedr. Un o'r cydrannau hanfodol sy'n dylanwadu'n sylweddol ar berfformiad TEM yw'r deiliad TEM. Gall deall y gwahanol fathau a swyddogaethau o ddalwyr TEM fod yn hollbwysig i weithwyr proffesiynol sy'n dibynnu ar ddelweddu a dadansoddi cywir yn eu gwaith. Deiliad TEM,