Un perfilómetro es un instrumento de precisión utilizado para la medición de alta precisión de la topografía microscópica de las superficies del material (como la altura del paso, la rugosidad, la planitud y la deformación). Es ampliamente utilizado en la fabricación de semiconductores, la investigación de ciencias de los materiales, el procesamiento MEMS (sistemas microelectromecánicos) y las pruebas de componentes ópticos. Su función principal es obtener datos cuantitativos sobre los cambios de altura de la superficie a través del contacto mínimo entre la sonda y la superficie de la muestra, proporcionando datos clave para el análisis del rendimiento del material y la optimización del proceso.
