MEIST

ZEPTOOLS asutati 2016. aastal, asutas Pekingis Tonglingis, Anhui provintsis Tonglingis, Shanghai ja Dongguan, Guangdongi provints, on arenenud seadmete tootva ettevõte täiesti sõltumatu intellektuaalomandi õigusega. Ettevõte integreerib teadus- ja arendustegevust, tootmist ja müügitehingut, pakkudes klientidele skaneerimiselektronimikroskoobi; täielik erinevus in situ ülekande elektronmikroskoobi lahenduste ja täielik erinevus in situ skaneerivate elektronmikroskoobide, astmeprofileerija ja muud kõrgtehnoloogilised seadmed, Ja on pühendunud saama rahvusvaheliseks esmaklassiliseks nanotehnoloogia seadmete ja -lahenduste tarnijaks kogu tööstuse ahela jaoks. Talent on ettevõtte põhiline konkurentsivõime ja arengu liikumapanev jõud. ZEPTOOLS alustas 1990. aastatel elektronmikroskoobi ja sellega seotud in situ lisaseadmete uurimist ja arendamist, ja on järk-järgult saanud kõrgtehnoloogiliste talentide võtmeks kogumiskohaks kõrgtehnoloogiliste täpsete vahendite valdkonnas. Enam kui 100 inimest koosnevad töötajad, sealhulgas akadeemikud, enam kui 20 inimest koosnevad ekspertrühmad, kellel on masinate oskused; Optika, ultra-kõrge vaakum, elektroonika, mikro-nano-töötlemise tehnoloogia, tarkvara arendamise tehnoloogia professionaalse meeskonna. Et lahendada "kaelu" probleemi tööstuses, teeb ettevõte kõik jõupingutused andeid kasvatamiseks, peab tähelepanu tööstuse, akadeemilise, teadusuuringute ja kasutamise vahelisele koostööle; Ja on loonud pikaajalise koostöömehhanismi tosina ülikoolide ja teadusasutustega, et ellu viia ühise tehnoloogia peamised võtmed. tööstusharu areng rakendusele orienteeritud viisil. Tugev tehniline ja talendi tugevus on võitnud klientide sügava usalduse. Dr. Xu Zhi, alustades projekti ehituse, platvormi ehituse ja toote innovatsiooni, ettevõte on saavutanud kiire arengu, tootmisega, müük ja kasum suureneb märkimisväärselt aastalt. Ta on taotlenud peaaegu 47 intellektuaalomandi õigust, sealhulgas 28 leiutisepatenti; 23 volitatud leiutise patenti ja 30 tarkvara autoriõigust. Ettevõte on ellu viinud ja osalenud mitmetes raskekaalu teadusuuringute projektides, nagu riiklik võtmeuuringu- ja arendusprogramm ja riiklik teaduslik teadus Teadusuuringute seadmete arendamise projekt, näiteks „Mahke temperatuur tugev magnetvälja laiaulatuslik füüsiliste omaduste mõõtmise instrument” ja „High-Through-Throughput” projekti Bioloogiline näidis vaakum toimetusseade Projekt, ja on võitnud mitmeid provintsi ja omavalitsuse auhindu, sealhulgas Pekingi teaduse ja tehnoloogia preemia. Oleme võitnud ka palju provintside ja ministrite auhindu, sealhulgas Pekingi teadus- ja tehnoloogiapreemia. Ettevõte on loonud integreeritud mehhanismi tehnoloogilise uuendustegevuse jaoks tööstus-ülikoolide-uuringute ja -kasutuse, ja on korduvalt võtnud juhtrolli Hiina materjalide iseloomustuse ja mõõtmise seadmete "maise asendamise", ja seotud toodetel on hea rahvusvaheline maine, Ja toodete katsetamise andmed on vastu võetud rahvusvaheliste kuulsate ajakirjade poolt. Töölaua skaneerimine elektronmikroskoobi, JOINTM seeria Nano displacement etapp, etapiprofileerija ja muud tooted on saavutanud null läbimurret lokaliseerimisel, samal ajal kui plasma keemilise auru sadestussüsteem; skaneerimine tunnelite mikroskoobi süsteem ja muud tooted on jõudnud rahvusvahelisele esmaklassilisele ja riigisisesele juhtivale tasemele. Tuumatooteid on kontrollinud paljud kuulsad ettevõtted ja on jõudnud suuremahulise masstootmise etappi. Nüüd on neid kõrgelt kiitnud sadu kvaliteetseid kasutajaid, mis on levinud üle 27 provintsitasandi halduspiirkonda Hiinas, mis hõlmavad mitte ainult kõrgtehnoloogilisi laboreid kogu Hiinas, vaid eksporditakse ka arenenud riikidesse nagu Ameerika Ühendriigid, Saksamaa, Ühendkuningriik, Venemaa, Austraalia, Jaapan jne, Ja on nautinud suur kiitus tööstuses.

vaata rohkem

UUDISED

ZEPTOOLS Tehnoloogia Populaarseteadus - Tutvustus elektronkiirguse litograafia (EBL) tehnoloogia

Elektronkiire litograafia (EBL) on masketa, otsekirjutuslik litograafiline tehnika, mis töötab otseselt kirjutades nanoskaalmustrid elektronitundlikule resisti pinnale, kasutades at fokuseeritud elektronkiir.

2025-08-07 vaata rohkem

ZEPTOOLS Tehnoloogia treppide instrument: käsitsi, poolautomaatsete ja täisautomaatsete tüüpide põhjalik analüüs, Kaasa arvatud erinevused ja tehnoloogilised eelised

Täpsuse mõõtmise valdkonnas, sammprofiler on põhiseade materjali pinna morfoloogia ja astme kõrguse iseloomustamiseks; ja selle tulemused mõjutavad otseselt teadusuuringute ja tootmise täpsust. Juhtiva kodumaise täpsuse mõõtevahendite tootjana, ZEISS JS seeria sammprofileerid on saanud eelistatud tööriistad pooljuht- ja materjaliteaduse valdkonnas, sest nende erinevate tüüpide tõttu. , kõrge täpsusega tulemuslikkuse ja paindliku uuendamise võime. Käesolev artikkel annab üksikasjaliku selgituse peamiste liikide, põhiliste erinevuste, ja tehnoloogilised eelised ZEISS step profilaatorid.

2025-08-07 vaata rohkem

TEM mitmekesiste rakenduste uurimine mikroskoopias

Transmission Electron Mikroskoopia (TEM) on üks kõige keerukamaid ja laialdasemaid tehnikaid mikroskoopia valdkonnas, eelkõige optiliste instrumentide valdkonnas. TEM põhimõte hõlmab elektronkiirte edastamist proovi kaudu kõrge resolutsiooniga kujutiste tootmiseks; võimaldada teadlastel jälgida materjalide peene struktuuri üksikasju nanoskaalal. See päev.

2025-08-06 vaata rohkem

Mis on elektronkiire litograafia masina tööpõhimõte?

Elektronkiire litograafia (EBL) on mikronano tootmisseade, mis põhineb elektronkiirgusel. Selle põhi põhimõte on joonistada nano-skalmustrid resisti (nt PMMA, HSQ) kasutatakse kõrge energiaga elektronkiirt. Lõpuks, muster viiakse alusmaterjali läbi protsesside nagu arendus ja fikseerimine.

2025-08-06 vaata rohkem

Mis on masklit litograafia? Kuidas see töötab?

Maskless litograafia on arenenud litograafia seadmed, mis ei vaja füüsilist maski. See kasutab digitaalset mikropeeglite seadet (DMD) dünaamiliselt litograafilisi mustreid, paindliku ja tõhusa mikrostruktuuri töötlemise võimaldamine. Selle põhifunktsioon kasutab DMD ruumivalguse modulatsiooni suutlikkust, et otseselt projekteerida arvutis kujundatud mustreid substraadile. pind. See kõrvaldab maskide valmistamise ja ühtlustamise tülikad sammud traditsioonilise litograafia, teadus- ja arendustegevuse tsükli oluliselt lühendamine ja tootmiskulude vähendamine.

2025-08-06 vaata rohkem

Mis on sammnäitaja? Milline on astmelisuse põhimõte?

Profiloometer on täpsusvahend, mida kasutatakse materjali pindade mikroskoopilise topograafia kõrge täpsusega mõõtmiseks (näiteks astme kõrgus) t, karedus, lamedus ja warp. Seda kasutatakse laialdaselt pooljuhtide tootmises, materjaliteaduste uuringutes, MEMS (Microelektromehaanilised süsteemid) töötlemises, ja optiline komponentide katsetamine. Selle põhifunktsioon on saada kvantitatiivseid andmeid pinnakõrguse muutuste kohta väikse kokkupuute kaudu sondi ja proovipinna vahel; põhiandmed materjalide tulemuslikkuse analüüsi ja protsessi optimeerimise kohta.

2025-08-06 vaata rohkem

TEM-hooldajate oluline juhend: Sinu instrumentaallennuse parandamine

Transmissioon Electron Mikroskoopia (TEM) on võimas tehnika, mida kasutatakse materjalide peene struktuuri jälgimiseks nanomeetri skaalal. Üks olulisi komponente, mis oluliselt mõjutavad TEMi tulemuslikkust, on TEMi omanik. TEM omanike erinevate liikide ja funktsioonide mõistmine võib olla spetsialistide jaoks, kes toetuvad oma töös täpsetele pildistamisele ja analüüsidele. A TEM omanik,

2025-08-04 vaata rohkem

Mõistmine in Situ TEM-hoidjad: võtmekomponent täiustatud mikroskoopias

--- In situ TEM omanikud on olulised vahendid ülekandeelektronimikroskoopia (TEM) valdkonnas, eriti teadlaste jaoks. jälgida dünaamilisi protsesse nanoskaalal. Need omanikud võimaldavad materjalide reaalajas uurida erinevates keskkonnatingimustes; tehes neid väärtuslikuks paljude teadusuuringute jaoks. Niisiis, mis täpselt on TEM-i omanik? Esse

2025-08-02 vaata rohkem

vaata rohkem