Täpsuse mõõtmise valdkonnas, sammprofiler on põhiseade materjali pinna morfoloogia ja astme kõrguse iseloomustamiseks; ja selle tulemused mõjutavad otseselt teadusuuringute ja tootmise täpsust. Juhtiva kodumaise täpsuse mõõtevahendite tootjana, ZEISS JS seeria sammprofileerid on saanud eelistatud tööriistad pooljuht- ja materjaliteaduse valdkonnas, sest nende erinevate tüüpide tõttu. , kõrge täpsusega tulemuslikkuse ja paindliku uuendamise võime. Käesolev artikkel annab üksikasjaliku selgituse peamiste liikide, põhiliste erinevuste, ja tehnoloogilised eelised ZEISS step profilaatorid.
