Transmission Electron Mikroskoopia (TEM) on üks kõige keerukamaid ja laialdasemaid tehnikaid mikroskoopia valdkonnas, eelkõige optiliste instrumentide valdkonnas. TEM põhimõte hõlmab elektronkiirte edastamist proovi kaudu kõrge resolutsiooniga kujutiste tootmiseks; võimaldada teadlastel jälgida materjalide peene struktuuri üksikasju nanoskaalal. See päev.