Tarkkuusmittausten alalla, askelprofileeri toimii ydinlaitteena materiaalin pinnan morfologia ja askelman korkeuden luonnehdittaessa, ja sen suorituskyky vaikuttaa suoraan tieteellisen tutkimuksen ja tuotannon tarkkuuteen. Johtavana kotimaisena tarkkuusmittauslaitteiden valmistajana, ZEISS:n JS-sarjan askelprofilereista on tullut suosituksia työkaluja puolijohde- ja materiaalitieteiden alalla, koska niiden erilaisia tyyppejä ja korkean tarkkuuden suorituskyvyn ja joustavan päivityksen valmiudet. Tässä artiklassa selitetään yksityiskohtaisesti tärkeimmät tyypit, keskeiset erot, ja teknologisia etuja ZEISS step profilers.
