In profilometer is in presisyn ynstart brûkt foar heech- presisyfermeis fan de mikroskoopyske topografie fan materiële- depyls t, rowheid, flateit en warp. It is wydt brûkt yn semikonductor manufacturing, materiale- wensjinse-oeching, MEMS (Micro-electromechanical Systems). en optiese komponent testing. It kernfunksje is om kwaantityf gegevens op de oerformaasje- hichte wizigings te krijen troch minute kontakt mei it probe en de steelboarje, de kaai gegevens foar materiale prestaasje analise en proses- optimizaasje.
