Is ionstraim beachtais é próifíliméadar a úsáidtear chun topagrafaíocht mhicreascópach de dhromchlaí ábhartha a thomhas (mar shampla airde céim) t, garbh, flatness, agus warp. Úsáidtear go forleathan é i ndéantúsaíocht leathsheoltóra, ábhair taighde eolaíochta, MEMS (Córais Microelectromeicniúla), agus tástáil chomhpháirteach optúil. Is é a chroí-fheidhm ná sonraí cainníochtúla a fháil ar athruithe airde dromchla trí theagmháil nóiméad idir an probe agus dromchla an tsampla, príomh sonraí a sholáthar le haghaidh anailíse feidhmíochta ábhartha agus barrfheabhsú próiseas.
