संचरण इलेक्ट्रॉन माइक्रोस्कोपी (टेम) माइक्रोस्कोपी के क्षेत्र में सबसे परिष्कृत और व्यापक रूप से उपयोग की जाने वाली तकनीकों में से एक है, विशेष रूप से ऑप्टिकल उपकरणों के दायरे में। टेम के सिद्धांत में उच्च-रिज़ॉल्यूशन छवियों का उत्पादन करने के लिए एक नमूना के माध्यम से इलेक्ट्रॉनों की बीम को प्रसारित करना शामिल है, जिससे शोधकर्ताओं को नैनोस्केल में सामग्री के उत्कृष्ट संरचनात्मक विवरण का निरीक्षण करने की अनुमति मिलती है। इस कैबी