A profilométer egy precíziós műszer, amelyet az anyagfelületek mikroszkopikus topográfiájának (például a lépcsőmagasság, az érdesség, a laposság és a warp) nagy pontosságú mérésére használnak. Széles körben használják félvezető gyártásban, anyagtudományi kutatásokban, mems (mikroelektromechanikai rendszerek) feldolgozásban és optikai komponensek tesztelésében. Alapvető feladata, hogy a szonda és a mintafelület közötti perces érintkezés révén mennyiségi adatokat kapjon a felszíni magassági változásokról, kulcsfontosságú adatokat biztosítva az anyagteljesítmény-elemzéshez és a folyamatoptimalizáláshoz.
