Profilometer adalah instrumen presisi yang digunakan untuk pengukuran presisi tinggi dari permukaan material topografi mikroskopis (seperti Tinggi langkah, kekasaran, kerataan, dan warp). Kota ini banyak digunakan dalam manufaktur semikonduktor, Material science research, MEMS (sistem mikromekanik) pemrosesan, dan pengujian komponen optik. Fungsi intinya adalah untuk mendapatkan data kuantitatif pada perubahan tinggi permukaan melalui kontak menit antara penyelidik dan permukaan sampel, memberikan data utama untuk analisis performa material dan optimalisasi proses.
