프로파일 로미터 (profilometer) 는 재료 표면의 미세한 지형 (스텝 높이, 거칠기, 평탄도 및 워프와 같은) 의 고정밀 측정에 사용되는 정밀 장비입니다. 반도체 제조, 재료 과학 연구, MEMS (Microelectromechanical Systems) 가공 및 광학 부품 테스트에 널리 사용됩니다. 핵심 기능은 프로브와 샘플 표면 사이의 미세한 접촉을 통해 표면 높이 변화에 대한 정량적 데이터를 얻고 재료 성능 분석 및 프로세스 최적화를위한 핵심 데이터를 제공하는 것입니다.