Transmission Electron Microscopy (TEM) микроскопия талаасындагы эң софистицикалык жана көп колдонулган техникалардын бири, өзгөчөй эле оптикалык аспаптардын жерлеринде. TEM принципи жогорку резолюциялык сүрөттөрдү жаратуу үчүн электрондордун баяндамалары аркылуу камтыган, Изилдөөчүлөрдүн нанокалдагы материалдардын эң сонун структуралыгы маалыматтарын көрүүгө мүмкүнчүлүк берет. Бул капиби