Profilometras yra tikslus instrumentas, naudojamas didelio tikslumo matuojant mikroskopinę medžiagų paviršių topografiją (pvz., žingsnio aukštį, šiurkštumą, lygumą ir metmenis). Jis plačiai naudojamas puslaidininkių gamyboje, medžiagų mokslo tyrimuose, mems (mikroelektromechaninių sistemų) apdorojime ir optinių komponentų bandymuose. Jos pagrindinė funkcija yra gauti kiekybinius duomenis apie paviršiaus aukščio pokyčius per minutės kontaktą tarp zondo ir mėginio paviršiaus, pateikiant pagrindinius duomenis medžiagos veiklos analizei ir proceso optimizavimui.
