Op het gebied van precisiemeting dient de stapprofiler als een kernapparaat voor het karakteriseren van de morfologie van het materiaaloppervlak en de staphoogte, en de prestaties zijn rechtstreeks van invloed op de nauwkeurigheid van wetenschappelijk onderzoek en productie. Als toonaangevende binnenlandse fabrikant van precisiemeetinstrumenten zijn de stapprofilers van ZEISS-serie JS-serie voorkeursgereedschappen geworden op het gebied van halfgeleider-en materiaalkunde vanwege hun uiteenlopende typen, zeer nauwkeurige prestaties en flexibele upgrademogelijkheden. Dit artikel geeft een gedetailleerde uitleg van de belangrijkste typen, kernverschillen en technologische voordelen van ZEISS-stapprofilers.
