Een profilometer is een precisie-instrument dat wordt gebruikt voor zeer nauwkeurige meting van de microscopische topografie van materiaaloppervlakken (zoals staphoogte, ruwheid, vlakheid en schering). Het wordt veel gebruikt in de productie van halfgeleiders, materiaalwetenschappelijk onderzoek, MEMS-verwerking (Microelektromechanische systemen) en testen van optische componenten. De kernfunctie is het verkrijgen van kwantitatieve gegevens over veranderingen in oppervlaktehoogte door minieme contact tussen de sonde en het monsteroppervlak, waardoor belangrijke gegevens worden verstrekt voor materiaalprestatieanalyse en procesoptimalisatie.
