În domeniul măsurării preciziei, profilerul de pas servește ca un dispozitiv de bază pentru caracterizarea morfologiei suprafeței materiale și înălțimea treptei; și performanța sa afectează direct acuratețea cercetării și a producției științifice. Ca un producător de conducere a instrumentelor de măsurare a preciziei, Profilerii serii JS din ZEISS au devenit instrumente preferate în domeniul științei semiconductorilor și materialelor datorită tipurilor lor diferite , performanțe de înaltă precizie și capacități flexibile de îmbunătățire. Acest articol va oferi o explicație detaliată a principalelor tipuri, diferențe de bază, și avantajele tehnologice ale profilerilor de step ZEISS.
