В области прецизионного измерения ступенчатый профилирователь служит основным устройством для характеристики морфологии поверхности материала и высоты шага, а его характеристики напрямую влияют на точность научных исследований и производства. Являясь ведущим отечественным производителем прецизионных измерительных приборов, ступенчатые профилировочные приборы ZEISS серии JS стали предпочтительными инструментами в области полупроводников и материаловедения из-за их разнообразных типов, высокоточных характеристик и гибких возможностей обновления. В данной статье будет дано подробное объяснение основных типов, основных отличий и технологических преимуществ ступенчатых профилирователей ZEISS.
