Profilometer je presný prístroj, ktorý sa používa na vysoko presné meranie mikroskopickej topografie materiálových povrchov (ako je výška stupňa, drsnosť, plochosť a osnova). Je široko používaný pri výrobe polovodičov, výskume materiálovej vedy, spracovaní mems (mikroelektromechanické systémy) a testovaní optických komponentov. Jeho hlavnou funkciou je získať kvantitatívne údaje o zmenách výšky povrchu prostredníctvom minútového kontaktu medzi sondou a povrchom vzorky, poskytovanie kľúčových údajov pre analýzu výkonnosti materiálu a optimalizáciu procesov.
