Ang Transmission Electron Microscopy (TEM) ay isa sa mga pinaka-sofisticated at malawak na ginagamit na diskarte sa patlang ng microscopy, lalo na sa loob ng kaharian ng mga instrumento ng optikal. Ang prinsipyo ng TEM ay nagsasangkot ng pagpapadala ng isang sinag ng mga electron sa pamamagitan ng isang specimen upang gumawa ng mga larawan ng mataas na resolusyon, na nagpapahintulot sa mga mananaliksik na obserbahan ang mga mahusay na detalye ng mga materyales sa nanoscale. Ito