Ang profilometer ay isang instrumento ng tiyak na ginagamit para sa sukat ng mataas na presisyon ng microscopic topography ng mga materyal na ibabaw (tulad ng taas ng hakbang) t, magaspang, flatness, at warp. Ito ay malawak na ginagamit sa paggawa ng semiconductor, pagsasaliksik sa science ng materyals, MEMS (Microelectromechanical Systems), at pagsusulit sa optikal na komponente. Ang pangunahing funsyon nito ay upang makakuha ng kwantithong data sa mga pagbabago sa taas ng ibabaw sa pamamagitan ng minuto na contact sa pagitan ng probe at sa ibabaw ng sample, nagbibigay ng pangunahing data para sa pagsusuri ng materyal na pagganap at pag-optimization ng proseso.
